Electromigration Effects in Corroded BGA - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Electromigration Effects in Corroded BGA

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02516854

Soumis le : mardi 24 mars 2020-10:16:42

Dernière modification le : mardi 6 juin 2023-13:30:30

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02516854 , version 1 (24-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02516854 , version 1

Citer

Kirsten Weide-Zaage, Alexandrine Guedon-Gracia, Hélène Fremont. Electromigration Effects in Corroded BGA. Proceedings of Eurosime 2019, Mar 2019, Hanovre, Germany. ⟨hal-02516854⟩

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