Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02515500
Soumis le : lundi 23 mars 2020-15:14:16
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02515500 , version 1
Citer
N. Baptistat, K. Abouda, T. Dubois, G. Duchamp. Effects of Process-Voltage-Temperature (PVT) Variations on Low-Side MOSFET circuit Conducted Emission. Proceedings of EMC Compo 2019, 2019, Hangzhou, China. ⟨hal-02515500⟩
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