Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02515280
Soumis le : lundi 23 mars 2020-14:24:31
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02515280 , version 1
Citer
S. Hairoud, G. Duchamp, T. Dubois, J. Y. Delétage, A. Durier, et al.. A conducted Immunity Model for Electromagnetic Reliability of a Voltage Reference Circuit. Microelectronics Reliability, 2017. ⟨hal-02515280⟩
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