A conducted Immunity Model for Electromagnetic Reliability of a Voltage Reference Circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2017
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Dates et versions

hal-02515280 , version 1 (23-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02515280 , version 1

Citer

S. Hairoud, G. Duchamp, T. Dubois, J. Y. Delétage, A. Durier, et al.. A conducted Immunity Model for Electromagnetic Reliability of a Voltage Reference Circuit. Microelectronics Reliability, 2017. ⟨hal-02515280⟩
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