Ageing mechanisms in Deep Trench Termination (DT2) Diode - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015

Ageing mechanisms in Deep Trench Termination (DT2) Diode

F. Baccar
  • Fonction : Auteur
H. Arbess
  • Fonction : Auteur
L. Theolier
E. Woirgard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841231
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02500141 , version 1 (05-03-2020)

Identifiants

Citer

F. Baccar, H. Arbess, L. Theolier, S. Azzopardi, E. Woirgard. Ageing mechanisms in Deep Trench Termination (DT2) Diode. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1981-1987. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.132⟩. ⟨hal-02500141⟩
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