Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Loic Theolier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02500021
Soumis le : jeudi 5 mars 2020-16:47:01
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Citer
Omar Chihani, Loïc Théolier, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard, Alain Bensoussan, et al.. Temperature and voltage effects on HTRB and HTGB stresses for AlGaN/GaN HEMTs. 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2018, San-Francisco, United States. pp.P-RT.2-1-P-RT.2-6, ⟨10.1109/irps.2018.8353685⟩. ⟨hal-02500021⟩
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