Quantifying eigenstrain distributions induced by focused ion beam damage in silicon
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Sciences de l'ingénieur [physics]Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Julien Guénolé : Connectez-vous pour contacter le contributeur
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Soumis le : lundi 10 juillet 2023-15:05:50
Dernière modification le : jeudi 12 octobre 2023-11:48:05