High energy PIXE : a powerful tool to characterize multi-layers thick samples - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

High energy PIXE : a powerful tool to characterize multi-layers thick samples

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02458216 , version 1 (28-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02458216 , version 1

Citer

Alexandre Subercaze, Charbel Koumeir, Vincent Métivier, Noël Servagent, Arnaud Guertin, et al.. High energy PIXE : a powerful tool to characterize multi-layers thick samples. 15th International Conference on Particle Induced X-ray Emission (PIXE 2017), Apr 2017, Split, Croatia. ⟨hal-02458216⟩
35 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More