Communication Dans Un Congrès Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02457743 , version 1 (28-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02457743 , version 1

Citer

Brice Le Borgne, Maxime Thomas, Anne-Claire Salaün, Regis Rogel, Laurent Pichon. Electrical characterization of Si nanostructures/SiO2 interfaces by field-effect conductance method. EMRS 2015 Fall Meeting, sept 2015, Warsaw, Poland, Sep 2015, Warsaw, Poland. ⟨hal-02457743⟩
68 Consultations
0 Téléchargements

Partager

  • More