Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
Laurent Pichon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02457743
Soumis le : mardi 28 janvier 2020-12:04:39
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:14
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02457743 , version 1
Citer
Brice Le Borgne, Maxime Thomas, Anne-Claire Salaün, Regis Rogel, Laurent Pichon. Electrical characterization of Si nanostructures/SiO2 interfaces by field-effect conductance method. EMRS 2015 Fall Meeting, sept 2015, Warsaw, Poland, Sep 2015, Warsaw, Poland. ⟨hal-02457743⟩
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