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Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Electrical characterization of Si nanostructures/SiO2 interfaces by field-effect conductance method

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02457743 , version 1 (28-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02457743 , version 1

Citer

Brice Le Borgne, Maxime Thomas, Anne-Claire Salaün, Regis Rogel, Laurent Pichon. Electrical characterization of Si nanostructures/SiO2 interfaces by field-effect conductance method. EMRS 2015 Fall Meeting, sept 2015, Warsaw, Poland, Sep 2015, Warsaw, Poland. ⟨hal-02457743⟩
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