Atomic force microscopy developments for probing space charge at sub-micrometer scale in thin dielectric films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation Année : 2016

Atomic force microscopy developments for probing space charge at sub-micrometer scale in thin dielectric films

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hal-02448461 , version 1 (05-01-2021)

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Christina Villeneuve-Faure, Laurent Boudou, Kremena Makasheva, G. Teyssedre. Atomic force microscopy developments for probing space charge at sub-micrometer scale in thin dielectric films. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 2016, 23 (2), pp.713-720. ⟨10.1109/TDEI.2016.005319⟩. ⟨hal-02448461⟩
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