Defect structure of pulsed laser deposited LiNbO3/Al2O3 layers determined by X-ray diffraction reciprocal space mapping - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2003

Defect structure of pulsed laser deposited LiNbO3/Al2O3 layers determined by X-ray diffraction reciprocal space mapping

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Génie des procédés Optique / photonique Energie électrique Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-02435761

Soumis le : samedi 11 janvier 2020-13:42:17

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

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Dates et versions

hal-02435761 , version 1 (11-01-2020)

Identifiants

Citer

A. Boulle, Laurent Canale, R. Guinebretière, C. Girault-Di Bin, A. Dauger. Defect structure of pulsed laser deposited LiNbO3/Al2O3 layers determined by X-ray diffraction reciprocal space mapping. Thin Solid Films, 2003, 429 (1-2), pp.55-62. ⟨10.1016/S0040-6090(03)00030-0⟩. ⟨hal-02435761⟩

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