Article Dans Une Revue
Review of Scientific Instruments
Année : 2019
Laurent Gallais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02426125
Soumis le : mercredi 1 janvier 2020-18:51:46
Dernière modification le : mardi 12 novembre 2024-17:15:22
Citer
A. Ollé, J. Luce, N. Roquin, C. Rouyer, M. Sozet, et al.. Implications of laser beam metrology on laser damage temporal scaling law for dielectric materials in the picosecond regime. Review of Scientific Instruments, 2019, 90 (7), pp.073001. ⟨10.1063/1.5094774⟩. ⟨hal-02426125⟩
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