Progress on a Surface-Electrode Ion Trap for Optical Frequency Metrology - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Progress on a Surface-Electrode Ion Trap for Optical Frequency Metrology

M. Delehaye
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
CV
L. Groult
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
T. Laupretre
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
A. Kumar
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 867710
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
B. Achi
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
M. Souidi
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
E. Bigler
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
J. Millo
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
P. -Y. Bourgeois
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
Y. Kersalé
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
C. Lacroute
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)

Domaines

Optique / photonique

Pierre-Yves bourgeois  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02419698

Soumis le : jeudi 19 décembre 2019-15:43:49

Dernière modification le : jeudi 13 avril 2023-09:26:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02419698 , version 1 (19-12-2019)

Identifiants

Citer

M. Delehaye, L. Groult, T. Laupretre, A. Kumar, B. Achi, et al.. Progress on a Surface-Electrode Ion Trap for Optical Frequency Metrology. 2019 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium anEuropean Frequency and Time Forum (EFTF/IFCS), Apr 2019, Orlando, United States. pp.1-2, ⟨10.1109/FCS.2019.8856116⟩. ⟨hal-02419698⟩

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