Structure of Nano-crystalline Thin Layers by Glancing Incidence X-ray Diffraction. - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Structure of Nano-crystalline Thin Layers by Glancing Incidence X-ray Diffraction.

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Matériaux Cristallographie Adaptation et Systèmes auto-organisés [nlin.AO]

Gianguido Baldinozzi  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02415435

Soumis le : mardi 17 décembre 2019-09:56:14

Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:15:25

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Dates et versions

hal-02415435 , version 1 (17-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02415435 , version 1

Citer

Gianguido Baldinozzi, Vassilis Pontikis, David Simeone. Structure of Nano-crystalline Thin Layers by Glancing Incidence X-ray Diffraction.. TMS 2019. Symposium: Characterization of Minerals, Metals, and Materials, Dec 2019, San Antonio (TX), United States. ⟨hal-02415435⟩

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