Structure of Nano-crystalline Thin Layers by Glancing Incidence X-ray Diffraction. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02415435 , version 1 (17-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02415435 , version 1

Citer

Gianguido Baldinozzi, Vassilis Pontikis, David Simeone. Structure of Nano-crystalline Thin Layers by Glancing Incidence X-ray Diffraction.. TMS 2019. Symposium: Characterization of Minerals, Metals, and Materials, Dec 2019, San Antonio (TX), United States. ⟨hal-02415435⟩
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