Terahertz near-field imaging using batch-fabricated cantilevers with 70 μm long tips

Batch-fabricated atomic force microscopy cantilevers with tip longer than 70 μm are reported. They are designed to increase terahertz focusing in scattering optical nearfield imaging. Terahertz imaging of graphene samples with sub-100 nm features is presented.

Mots clés

Graphene Optical imaging Optical microscopy Force Atomic force microscopy

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Fichier principal

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Origine	Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal.science/hal-02398422

Soumis le : samedi 14 août 2021-15:41:03

Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:16

Dates et versions

hal-02398422 , version 1 (14-08-2021)

Identifiants

HAL Id : hal-02398422 , version 1
DOI : 10.1109/IRMMW-THz.2019.8874242

Citer

B. Walter, E. Mairiaux, D. Vignaud, Sophie Eliet, Jean-Francois Lampin, et al.. Terahertz near-field imaging using batch-fabricated cantilevers with 70 μm long tips. 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Sep 2019, Paris, France. pp.1-2, ⟨10.1109/IRMMW-THz.2019.8874242⟩. ⟨hal-02398422⟩

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