Terahertz near-field imaging using batch-fabricated cantilevers with 70 μm long tips - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Terahertz near-field imaging using batch-fabricated cantilevers with 70 μm long tips

Résumé

Batch-fabricated atomic force microscopy cantilevers with tip longer than 70 μm are reported. They are designed to increase terahertz focusing in scattering optical nearfield imaging. Terahertz imaging of graphene samples with sub-100 nm features is presented.
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02398422 , version 1 (14-08-2021)

Identifiants

Citer

B. Walter, E. Mairiaux, D. Vignaud, Sophie Eliet, Jean-Francois Lampin, et al.. Terahertz near-field imaging using batch-fabricated cantilevers with 70 μm long tips. 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Sep 2019, Paris, France. pp.1-2, ⟨10.1109/IRMMW-THz.2019.8874242⟩. ⟨hal-02398422⟩
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