Etude par Microscopie à sonde de Kelvin (KPFM) des phénomènes d’injection et de stockage de charges électriques dans des couches minces de SiO2 contenant des inclusions métalliques de taille nanométrique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Etude par Microscopie à sonde de Kelvin (KPFM) des phénomènes d’injection et de stockage de charges électriques dans des couches minces de SiO2 contenant des inclusions métalliques de taille nanométrique

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Dates et versions

hal-02397415 , version 1 (12-11-2020)
hal-02397415 , version 2 (29-09-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02397415 , version 2

Citer

C. Djaou, Christina Villeneuve-Faure, Laurent Boudou, Kremena Makasheva, G. Teyssedre. Etude par Microscopie à sonde de Kelvin (KPFM) des phénomènes d’injection et de stockage de charges électriques dans des couches minces de SiO2 contenant des inclusions métalliques de taille nanométrique. 11e Conf. Société Française d'Electrostatique (SFE), 29-31 août 2018, Grenoble, France. Proc. SFE 2018, pp. 1-5, 2018, Aug 2018, Grenoble, France. pp.1-5. ⟨hal-02397415v2⟩
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