XPS profiling study of Al<inf>2</inf>O<inf>3</inf> passivation layers for high efficiency n-PERT and PERC solar cells - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2018

XPS profiling study of Al2O3 passivation layers for high efficiency n-PERT and PERC solar cells

Solène Béchu
Institut Lavoisier de Versailles
CV
Anais Loubat
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de physique et chimie des nano-objets
Muriel Bouttemy
Institut Lavoisier de Versailles
Yves Marot
  • Fonction : Auteur
Air Liquide
Thomas Blévin
  • Fonction : Auteur
Institut Photovoltaïque d’Ile-de-France (UMR)
Jonathan Langlois
  • Fonction : Auteur
Andy Zauner
  • Fonction : Auteur
Mathieu Frégnaux
Institut Lavoisier de Versailles
CV
Damien Aureau
Institut Lavoisier de Versailles
Jackie Vigneron
  • Fonction : Auteur
Institut Lavoisier de Versailles
Peter Uhlig
  • Fonction : Auteur
Sylvain Pouliquen
  • Fonction : Auteur
Centre de Recherche Claude Delorme [Jouy-en-Josas]
Arnaud Etcheberry
Institut Lavoisier de Versailles

Domaines

Chimie Matériaux

Damien AUREAU  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02393374

Soumis le : mercredi 4 décembre 2019-13:15:00

Dernière modification le : jeudi 14 novembre 2024-16:00:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02393374 , version 1 (04-12-2019)

Identifiants

Citer

Solène Béchu, Anais Loubat, Muriel Bouttemy, Yves Marot, Thomas Blévin, et al.. XPS profiling study of Al2O3 passivation layers for high efficiency n-PERT and PERC solar cells. 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), Jun 2018, Waikoloa Village, France. IEEE, pp.3069-3072, ⟨10.1109/PVSC.2018.8547412⟩. ⟨hal-02393374⟩

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