Measurement issues of on-Silicon de- embedding test structures in the Sub-THz range - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Measurement issues of on-Silicon de- embedding test structures in the Sub-THz range

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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https://hal.science/hal-02380246

Soumis le : mardi 26 novembre 2019-10:57:48

Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27

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Dates et versions

hal-02380246 , version 1 (26-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02380246 , version 1

Citer

Chandan Yadav, Marina Deng, Sebastien Fregonese, Magali de Matos, Thomas Zimmer. Measurement issues of on-Silicon de- embedding test structures in the Sub-THz range. AKB working group, Nov 2018, Frickenhausen, Germany. ⟨hal-02380246⟩

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