Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02379157
Soumis le : lundi 25 novembre 2019-15:22:43
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
Mathieu Jaoul, David Ney, Didier Celi, Cristell Maneux, Thomas Zimmer. Analysis of a failure mechanism occurring in SiGe HBTs under mixed-mode stress conditions. 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Mar 2019, Kita-Kyushu City, Japan. pp.33-37, ⟨10.1109/ICMTS.2019.8730951⟩. ⟨hal-02379157⟩
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