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Article Dans Une Revue Materials Characterization Année : 2019

Toward an automated tool for dislocation density characterization in a scanning electron microscope

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Paternité - Pas d'utilisation commerciale

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Citer

S. Cazottes, A. Bechis, C. Lafond, G. L’hôte, Tom Dreyfus, et al.. Toward an automated tool for dislocation density characterization in a scanning electron microscope. Materials Characterization, 2019, 158, pp.109954. ⟨10.1016/j.matchar.2019.109954⟩. ⟨hal-02371754⟩
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