EPR reversible signature of self-trapped holes in fictive temperature-treated silica glass - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2018
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Dates et versions

hal-02371171 , version 1 (19-11-2019)

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Citer

Matthieu Lancry, Nadège Ollier, B. Babu, Christian Herrero, Bertrand Poumellec. EPR reversible signature of self-trapped holes in fictive temperature-treated silica glass. Journal of Applied Physics, 2018, 123 (11), pp.113101. ⟨10.1063/1.5023310⟩. ⟨hal-02371171⟩
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