Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2018
Bertrand Poumellec : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02371171
Soumis le : mardi 19 novembre 2019-17:37:20
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-11:50:08
Citer
Matthieu Lancry, Nadège Ollier, B. Babu, Christian Herrero, Bertrand Poumellec. EPR reversible signature of self-trapped holes in fictive temperature-treated silica glass. Journal of Applied Physics, 2018, 123 (11), pp.113101. ⟨10.1063/1.5023310⟩. ⟨hal-02371171⟩
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