Article Dans Une Revue
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
Année : 2015
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https://hal.science/hal-02345556
Soumis le : lundi 4 novembre 2019-15:33:13
Dernière modification le : vendredi 6 février 2026-11:44:10
Citer
A. El Fellahi, Kamel Haddadi, J. Marzouk, S. Arscott, Christophe Boyaval, et al.. Integrated MEMS RF Probe for SEM Station—Pad Size and Parasitic Capacitance Reduction. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2015, 25 (10), pp.693-695. ⟨10.1109/LMWC.2015.2463213⟩. ⟨hal-02345556⟩
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