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Poster De Conférence Année : 2019

Halide Perovskite Thin Films Characterisation by Force Microscopy Techniques

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02344113 , version 1 (03-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02344113 , version 1

Citer

Aleksandra Bojar, Clément Marchat, J Alvarez, Philip Schulz, Jean-Paul Kleider. Halide Perovskite Thin Films Characterisation by Force Microscopy Techniques. JNPV 2019, Dec 2019, Dourdan, France. ⟨hal-02344113⟩
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