X-ray backlighter requirements for refraction-based electron density diagnostics through Talbot-Lau deflectometry - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Review of Scientific Instruments Année : 2018

X-ray backlighter requirements for refraction-based electron density diagnostics through Talbot-Lau deflectometry

M. Valdivia
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F. Veloso
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D. Stutman
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C. Stoeckl
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Laboratory for lasers energetics - LLE (New-York, USA)
C. Mileham
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I. Begishev
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W. Theobald
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Institut für Optik und Quantenelektronik
M. Vescovi
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W. Useche
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S. Regan
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Bruno Albertazzi
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Laboratoire pour l'utilisation des lasers intenses
G. Rigon
Laboratoire pour l'utilisation des lasers intenses
P. Mabey
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Laboratoire pour l'utilisation des lasers intenses
T. Michel
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Laboratoire pour l'utilisation des lasers intenses
S. Pikuz
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Joint Institute for High Temperatures of the RAS
M. Koenig
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Laboratoire pour l'utilisation des lasers intenses
A. Casner
Centre d'Etudes Lasers Intenses et Applications

Domaines

Physique des plasmas [physics.plasm-ph]

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Soumis le : lundi 21 octobre 2019-15:01:46

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-18:15:37

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hal-02321789 , version 1 (21-10-2019)

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Citer

M. Valdivia, F. Veloso, D. Stutman, C. Stoeckl, C. Mileham, et al.. X-ray backlighter requirements for refraction-based electron density diagnostics through Talbot-Lau deflectometry. Review of Scientific Instruments, 2018, 89 (10), pp.10G127. ⟨10.1063/1.5039342⟩. ⟨hal-02321789⟩

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