RF compressibility of topological surface and interface states in metal–hBN–Bi 2 Se 3 capacitors - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Physics: Materials Année : 2019

RF compressibility of topological surface and interface states in metal–hBN–Bi 2 Se 3 capacitors

Fichier principal
Vignette du fichier
Inhofer_2019_J._Phys._Mater._2_044003.pdf (1.03 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte
Licence

Dates et versions

hal-02318626 , version 1 (10-09-2024)

Licence

Identifiants

Citer

A. Inhofer, T Wilde, J. A Duffy, M. Boukhicha, José Palomo, et al.. RF compressibility of topological surface and interface states in metal–hBN–Bi 2 Se 3 capacitors. Journal of Physics: Materials, 2019, 2 (4), pp.044003. ⟨10.1088/2515-7639/ab383c⟩. ⟨hal-02318626⟩
44 Consultations
2 Téléchargements

Altmetric

Partager

More