Understanding the Crystallization Behavior of Surface-Oxidized GeTe Thin Films for Phase-Change Memory Application
Andrea Kolb
(1)
,
Nicolas Bernier
(2)
,
Eric Robin
(1)
,
Anass Benayad
(3)
,
Jean-Luc Rouviere
(1)
,
Chiara Sabbione
(2)
,
Francoise Hippert
(4)
,
Pierre Noé
(5)
1
LEMMA -
Laboratoire d'Etude des Matériaux par Microscopie Avancée
2 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
3 LITEN - Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux
4 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
5 DPFT - Département Plate-Forme Technologique
2 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
3 LITEN - Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux
4 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
5 DPFT - Département Plate-Forme Technologique
Nicolas Bernier
- Fonction : Auteur
- PersonId : 15559
- IdHAL : nicolas-bernier
- ORCID : 0000-0001-7340-8646
- IdRef : 083004459
Eric Robin
- Fonction : Auteur
- PersonId : 172851
- IdHAL : robin-eric
- ORCID : 0000-0002-5596-2640
Anass Benayad
- Fonction : Auteur
- PersonId : 777666
- ORCID : 0000-0001-7808-3289
Jean-Luc Rouviere
- Fonction : Auteur
- PersonId : 171210
- IdHAL : jean-luc-rouviere
- ORCID : 0000-0001-8731-3074
- IdRef : 086257374
Francoise Hippert
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1192308
- IdHAL : francoise-hippert
- ORCID : 0000-0003-1827-0618
- IdRef : 034215522