Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
UMI3463 LN2 : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02310067
Soumis le : mercredi 9 octobre 2019-18:42:43
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02310067 , version 1
Citer
Steven Duffy, Brahim Benbakhti, Wei Zhang, Karol Kalna, Khaled Ahmeda, et al.. A Source and Drain Transient Currents Technique for Trap Characterisation in AlGaN/GaN Based Devices. 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Sep 2017, Leuven, Belgium. ⟨hal-02310067⟩
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