On the Variation in Short-Open De-embedded S-parameter Measurement of SiGe HBT upto 500 GHz - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

On the Variation in Short-Open De-embedded S-parameter Measurement of SiGe HBT upto 500 GHz

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Marina DENG  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02305963

Soumis le : vendredi 4 octobre 2019-16:50:34

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02305963 , version 1 (04-10-2019)

Identifiants

Citer

Chandan Yadav, Sebastien Fregonese, Marina Deng, Marco Cabbia, Magali de Matos, et al.. On the Variation in Short-Open De-embedded S-parameter Measurement of SiGe HBT upto 500 GHz. 2019 12th German Microwave Conference (GeMiC), Mar 2019, Stuttgart, Germany. pp.264-267, ⟨10.23919/GEMIC.2019.8698153⟩. ⟨hal-02305963⟩

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