Article Dans Une Revue
International Journal of Information Science & Technology
Année : 2019
pascal dherbecourt : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02295904
Soumis le : mardi 24 septembre 2019-15:34:27
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02295904 , version 1
Citer
Jian Zhi Fu, François Fouquet, Moncef Kadi, Pascal Dherbécourt, Fabien Cuvilly. Experimental and microscopic analysis of 600V GaN-GIT under the short-circuit aging tests. International Journal of Information Science & Technology, 2019. ⟨hal-02295904⟩
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