Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2011
Olivier Latry : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02267392
Soumis le : lundi 19 août 2019-11:29:55
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02267392 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2011.03.040
Citer
L. Lacheze, O. Latry, Pascal Dherbécourt, K. Mourgues, V. Purohit, et al.. Characterization and modeling of hot carrier injection in LDMOS for L-band radar application. Microelectronics Reliability, 2011, 51 (8), pp.1289-1294. ⟨10.1016/j.microrel.2011.03.040⟩. ⟨hal-02267392⟩
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