Characterization and modeling of hot carrier injection in LDMOS for L-band radar application - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2011

Characterization and modeling of hot carrier injection in LDMOS for L-band radar application

L. Lacheze
  • Fonction : Auteur
O. Latry
Pascal Dherbécourt
V. Purohit
  • Fonction : Auteur
H. Maanane
  • Fonction : Auteur
P. Sipma
  • Fonction : Auteur
F. Cornu
  • Fonction : Auteur
P. Eudeline
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02267392 , version 1 (19-08-2019)

Identifiants

Citer

L. Lacheze, O. Latry, Pascal Dherbécourt, K. Mourgues, V. Purohit, et al.. Characterization and modeling of hot carrier injection in LDMOS for L-band radar application. Microelectronics Reliability, 2011, 51 (8), pp.1289-1294. ⟨10.1016/j.microrel.2011.03.040⟩. ⟨hal-02267392⟩
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