Finite element based surface roughness study for ohmic contact of microswitches - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Finite element based surface roughness study for ohmic contact of microswitches

H. Liu
Dimitri Leray
Institut Clément Ader
Stéphane Colin
Institut Clément Ader
CV
P. Pons
  • Fonction : Auteur
A. Broué
  • Fonction : Auteur

Résumé

no abstract

Domaines

Matériaux et structures en mécanique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-02186310

Soumis le : mercredi 17 juillet 2019-11:46:36

Dernière modification le : vendredi 15 novembre 2024-14:08:02

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Dates et versions

hal-02186310 , version 1 (17-07-2019)

Identifiants

Citer

H. Liu, Dimitri Leray, Stéphane Colin, P. Pons, A. Broué. Finite element based surface roughness study for ohmic contact of microswitches. 58th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Portland, Oregon, USA, 2012, Portland, Oregon, United States. pp.6336607:1-10, ⟨10.1109/HOLM.2012.6336607⟩. ⟨hal-02186310⟩

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