Analog and Mixed-Signal Test - Archive ouverte HAL
Chapitre D'ouvrage Année : 2016

Analog and Mixed-Signal Test

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Ingénierie assistée par ordinateur Modélisation et simulation Electronique
Fichier principal
Vignette du fichier
chapter.pdf (951.6 Ko) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Haralampos Stratigopoulos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02175745

Soumis le : mercredi 10 juillet 2019-20:34:11

Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:42:03

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

hal-02175745 , version 1 (10-07-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02175745 , version 1

Citer

Haralampos-G. Stratigopoulos, Bozena Kaminska. Analog and Mixed-Signal Test. Grant Martin; Luciano Lavagno; Igor Markov. Electronic Design Automation for Integrated Circuits Handbook, CRC Press, 2016. ⟨hal-02175745⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UPMC CNRS LIP6 TDS-MACS LIP6-CIAN SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES
56 Consultations
910 Téléchargements

Partager

More