Subpixel detection in wheat flour using near infrared hyperspectral imaging - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Subpixel detection in wheat flour using near infrared hyperspectral imaging

Résumé

Subpixel detection in wheat flour using near infrared hyperspectral imaging. 4. conference on optical characterization of materials

Domaines

Sciences du Vivant [q-bio]

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https://hal.science/hal-02164166

Soumis le : lundi 24 juin 2019-20:08:48

Dernière modification le : mercredi 17 avril 2024-15:52:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02164166 , version 1 (24-06-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02164166 , version 1
  • PRODINRA : 475093

Citer

Antoine Laborde, Benoit Jaillais, Anthony Boulanger, Delphine Jouan-Rimbaud Bouveresse, Christophe Cordella. Subpixel detection in wheat flour using near infrared hyperspectral imaging. 4. conference on optical characterization of materials, Karlsruhe Center for Spectral Signatures of Materials (KCM)., Mar 2019, Karlsruhe, Germany. ⟨hal-02164166⟩

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