LOCALIZATION AND MEASUREMENT OF COSMETIC COMPOUNDS IN SKIN BY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2015

LOCALIZATION AND MEASUREMENT OF COSMETIC COMPOUNDS IN SKIN BY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS)

Anthony Delaune
David Gibouin
Ghislain Gangwe Nana
  • Fonction : Auteur
Pierre Poutrain
  • Fonction : Auteur
Benoit Jourdain
  • Fonction : Auteur
Armelle Cabin-Flaman
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02158610 , version 1 (18-06-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02158610 , version 1

Citer

Anthony Delaune, David Gibouin, Ghislain Gangwe Nana, Pierre Poutrain, Benoit Jourdain, et al.. LOCALIZATION AND MEASUREMENT OF COSMETIC COMPOUNDS IN SKIN BY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS). COMET 2015, Jun 2015, Cergy-Pontoise, France. ⟨hal-02158610⟩
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