LOCALIZATION AND MEASUREMENT OF COSMETIC COMPOUNDS IN SKIN BY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS) - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2015

LOCALIZATION AND MEASUREMENT OF COSMETIC COMPOUNDS IN SKIN BY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS)

Anthony Delaune
Groupe de physique des matériaux
David Gibouin
UPRESA 6037
Groupe de physique des matériaux
CV
Ghislain Gangwe Nana
  • Fonction : Auteur
Pierre Poutrain
  • Fonction : Auteur
Benoit Jourdain
  • Fonction : Auteur
Armelle Cabin-Flaman
Université de Rouen Normandie
CV

Domaines

Biochimie [q-bio.BM] Biophysique Imagerie Dermatologie

Anthony Delaune  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02158610

Soumis le : mardi 18 juin 2019-11:06:29

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02158610 , version 1 (18-06-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02158610 , version 1

Citer

Anthony Delaune, David Gibouin, Ghislain Gangwe Nana, Pierre Poutrain, Benoit Jourdain, et al.. LOCALIZATION AND MEASUREMENT OF COSMETIC COMPOUNDS IN SKIN BY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS). COMET 2015, Jun 2015, Cergy-Pontoise, France. ⟨hal-02158610⟩

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