High Resolution Electron Microscopy of Grain Boundary Motion During Island Grain Shrinkage - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2016

High Resolution Electron Microscopy of Grain Boundary Motion During Island Grain Shrinkage

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Thierry Deutsch  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02143417

Soumis le : mercredi 29 mai 2019-13:37:58

Dernière modification le : lundi 16 décembre 2024-15:39:06

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Dates et versions

hal-02143417 , version 1 (29-05-2019)

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Citer

U. Dahmen, T. Radetic, M.L. Bowers, C. Ophus, A. Gautam, et al.. High Resolution Electron Microscopy of Grain Boundary Motion During Island Grain Shrinkage. Microscopy and Microanalysis, 2016, 22 (S3), pp.1224-1225. ⟨10.1017/S1431927616006966⟩. ⟨hal-02143417⟩

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