Dynamic Performance and Characterization of Traps Using Different Measurements Techniques for the New AlGaN/GaN HEMT of 0.15-μm Ultrashort Gate Length - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Année : 2019

Dynamic Performance and Characterization of Traps Using Different Measurements Techniques for the New AlGaN/GaN HEMT of 0.15-μm Ultrashort Gate Length

Mohamed Bouslama
Vincent Gillet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1033995
Christophe Chang
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 978300
Christophe Nallatamby
Raphaël Sommet
Michel Prigent
Raymond Quéré

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02141154 , version 1 (27-05-2019)

Identifiants

Citer

Mohamed Bouslama, Vincent Gillet, Christophe Chang, Christophe Nallatamby, Raphaël Sommet, et al.. Dynamic Performance and Characterization of Traps Using Different Measurements Techniques for the New AlGaN/GaN HEMT of 0.15-μm Ultrashort Gate Length. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2019, pp.1-8. ⟨10.1109/TMTT.2019.2907540⟩. ⟨hal-02141154⟩
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