Poster De Conférence Année : 2010

Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD

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Thierry Epicier, Thierry Douillard, Hui Yuan. Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD. EBSD 2010, May 2010, Saint-Etienne, France. ⟨hal-02138707⟩
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