Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://hal.science/hal-02138707
Soumis le : vendredi 24 mai 2019-09:27:07
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:11