Impact of Complex-Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2019

Impact of Complex-Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Frédéric Wrobel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02136500

Soumis le : mercredi 22 mai 2019-10:39:55

Dernière modification le : mercredi 3 juillet 2024-11:54:03

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Dates et versions

hal-02136500 , version 1 (22-05-2019)

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Citer

Y. Aguiar, Frédéric Wrobel, Jean-Luc Autran, P. Leroux, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Complex-Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2019, pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2019.2918077⟩. ⟨hal-02136500⟩

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