Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Non-Crystalline Solids Année : 2006

Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers

M.E. Gueunier-Farret
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
CV
J.P. Kleider
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
CV
F. Voigt
  • Fonction : Auteur
R. Brüggemann
  • Fonction : Auteur
G.H. Bauer
  • Fonction : Auteur
F. Huisken
  • Fonction : Auteur
MPI fur Strömungsforchung
Gilles Ledoux
Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents
CV

Domaines

Matière Condensée [cond-mat]

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https://hal.science/hal-02116929

Soumis le : mercredi 1 mai 2019-20:02:48

Dernière modification le : jeudi 16 mai 2024-13:06:03

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hal-02116929 , version 1 (01-05-2019)

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Citer

M.E. Gueunier-Farret, J.P. Kleider, F. Voigt, R. Brüggemann, G.H. Bauer, et al.. Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers. Journal of Non-Crystalline Solids, 2006, 352 (9-20), pp.1101-1104. ⟨10.1016/j.jnoncrysol.2005.11.096⟩. ⟨hal-02116929⟩

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