Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2016
François Vurpillot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02107553
Soumis le : mardi 23 avril 2019-16:48:53
Dernière modification le : mercredi 10 juillet 2024-16:10:15
Citer
Mukesh Bachhav, François Vurpillot, Frederic Danoix, Raphaële Danoix, Béatrice Hannoyer, et al.. Field Evaporation Behavior of Metal Oxide/Metal Interfaces. Microscopy and Microanalysis, 2016, 22 (S3), pp.678-679. ⟨10.1017/S1431927616004244⟩. ⟨hal-02107553⟩
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