Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Frédéric Wrobel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02086412
Soumis le : lundi 1 avril 2019-12:38:17
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02086412 , version 1
Citer
Hoang Nguyen, Axel Rodriguez, Frédéric Wrobel, Alain Michez, Francoise Bezerra, et al.. TCAD simulation of radiation-induced leakage current in SDRAM. 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2018), Oct 2018, Aalborg, Denmark. ⟨hal-02086412⟩
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