Characterization of Si Nanocrystals Embedded in SiO2 Matrix by Atom Probe Tomography
B. Han
(1)
,
Yasuo Shimizu
(2)
,
Gabriele Seguini
(3)
,
Elisa Arduca
(3)
,
Celia Castro
(4)
,
Gérard Benassayag
(5, 4)
,
Koji Inoue
(1)
,
Yasuyochi Nagai
(1)
,
Sylvie Schamm-Chardon
(4, 5)
,
Michele Perego
(3)
Celia Castro
- Fonction : Auteur
- PersonId : 174552
- IdHAL : celia-castro
- ORCID : 0000-0002-5492-1978
- IdRef : 071457038
Gérard Benassayag
- Fonction : Auteur
- PersonId : 18558
- IdHAL : gerard-benassayag
Sylvie Schamm-Chardon
- Fonction : Auteur
- PersonId : 18555
- IdHAL : sylvie-schamm-chardon
- ORCID : 0000-0001-5534-8475
- IdRef : 143045121