Article Dans Une Revue
Semiconductor Science and Technology
Année : 2018
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https://hal.science/hal-02080292
Soumis le : mardi 26 mars 2019-16:00:17
Dernière modification le : mardi 30 décembre 2025-13:32:02
Citer
E. Luna, O. Delorme, L. Cerutti, E. Tournié, J-B Rodriguez, et al.. Transmission electron microscopy of Ga(Sb, Bi)/GaSb quantum wells with varying Bi content and quantum well thickness. Semiconductor Science and Technology, 2018, 33 (9), pp.094006. ⟨10.1088/1361-6641/aad5c4⟩. ⟨hal-02080292⟩
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