Détection de défaut dans les pommes par mesure de diffraction en gamme millimétrique - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Détection de défaut dans les pommes par mesure de diffraction en gamme millimétrique

Résumé

Dans ce résumé, nous présentons les résultats de travaux exploratoires sur la détection des défauts dans les pommes par mesure de diffraction en gamme millimétrique. Nous montrons de premiers résultats obtenus sur pommes saines et abîmées à 92 GHz. Afin d’étudier séparément les effets de taille, composition moyenne de la pomme et altérations éventuelles, nous avons fabriqué des fantômes en cours de mesure.

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

sophie gaffé-clément  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02071824

Soumis le : lundi 18 mars 2019-17:39:19

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:27:58

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02071824 , version 1 (18-03-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02071824 , version 1

Citer

Claire Migliaccio, Jérôme Lanteri, Christian Pichot, Laurent Brochier, Nadine Joachimowicz, et al.. Détection de défaut dans les pommes par mesure de diffraction en gamme millimétrique. 21èmes Journées Nationales Micro-ondes (JNM 2019), May 2019, Caen, France. pp.3. ⟨hal-02071824⟩

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