Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2014
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https://hal.science/hal-02071157
Soumis le : lundi 18 mars 2019-13:59:09
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:08:06
Citer
Yifei Meng, Honggyu Kim, Jean-Luc Rouviere, Dieter Isheim, David Seidman, et al.. Digital model for X-ray diffraction with application to composition and strain determination in strained InAs/GaSb superlattices. Journal of Applied Physics, 2014, 116 (1), pp.013513. ⟨10.1063/1.4887078⟩. ⟨hal-02071157⟩
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