Digital model for X-ray diffraction with application to composition and strain determination in strained InAs/GaSb superlattices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2014
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02071157 , version 1 (18-03-2019)

Identifiants

Citer

Yifei Meng, Honggyu Kim, Jean-Luc Rouviere, Dieter Isheim, David Seidman, et al.. Digital model for X-ray diffraction with application to composition and strain determination in strained InAs/GaSb superlattices. Journal of Applied Physics, 2014, 116 (1), pp.013513. ⟨10.1063/1.4887078⟩. ⟨hal-02071157⟩
20 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More