Article Dans Une Revue
Micron
Année : 2014
Hanako Okuno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02071149
Soumis le : lundi 18 mars 2019-13:55:15
Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:16:05
Citer
Thibaud Denneulin, D. Cooper, J.L. Rouvière. Practical aspects of strain measurement in thin SiGe layers by (004) dark-field electron holography in Lorentz mode. Micron, 2014, 62, pp.52-65. ⟨10.1016/j.micron.2014.02.017⟩. ⟨hal-02071149⟩
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