Heterogranular multivariate analytics for detecting and controlling the root causes of the mismatching machines in semiconductor manufacturing - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Heterogranular multivariate analytics for detecting and controlling the root causes of the mismatching machines in semiconductor manufacturing

Aabir Chouichi
  • Fonction : Auteur
Jakey Blue
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 2172
  • IdHAL : jakey-blue
Département Sciences de la Fabrication et Logistique
Claude Yugma
  • Fonction : Auteur
Département Sciences de la Fabrication et Logistique
François Pasqualini
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 778640
  • IdRef : 031685013
Centre de recherche Droit Dauphine

Domaines

Recherche opérationnelle [math.OC] Mathématiques [math]

Claude Yugma  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02067516

Soumis le : jeudi 14 mars 2019-11:50:34

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:50:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02067516 , version 1 (14-03-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02067516 , version 1

Citer

Aabir Chouichi, Jakey Blue, Claude Yugma, François Pasqualini. Heterogranular multivariate analytics for detecting and controlling the root causes of the mismatching machines in semiconductor manufacturing. 29th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), Apr 2018, Saratog, New York, United States. ⟨hal-02067516⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-DAUPHINE CR2D-DAUPHINE TDS-MACS PSL
47 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More