Interface oxide trap characterisation in germanium-on-insulator 0.12 μm PMOS transistors by drain current noise measurements
J. Gyani
(1, 2)
,
S. Soliverès
(1, 2)
,
Frédéric Martinez
(1, 2)
,
M. Valenza
(1, 2)
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C. Le Royer
(3)
,
E. Augendre
(3)
,
K. Romanjek
(3)
,
Charlotte Drazek
Frédéric Martinez
- Fonction : Auteur
- PersonId : 15532
- IdHAL : frederic-martinez
- ORCID : 0000-0002-3917-7087
- IdRef : 074261118
Charlotte Drazek
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